由于STM分析材料只限于导体和半导 体,在1986年,由IBM公司的Binnig和 Quate发明了原子力显微镜利用探针针尖和 欲测试样品间的范德华力的强弱,得知样 本表面起伏高低和几何形状,由于其没有 使用STM的电子隧道效应原理,因而样本 可以为导体和非导体,解决了STM在材料 上的限制。

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