以下为AFM的原理图及其说明。
原理: 精密的PZT(Scanner)驱动Sample在三维方向上运动,移动的精度XY方向为0.2nm, Y方向0.01nm。微探针Cantilever接触在样品表面,并通过一套激光发射和激光检测系统来检测探针的形变,样品在Scanner驱动下沿一定的方向运动,样品的表面形貌高低起伏会使探针的形变发生改变,并通过测出来,P.S.D检测得到的信号通过一套反馈回路反馈给Scanner,
样品在Z方向移动,使微探针的形变恢复。记录下Scanner 的Z
迹,就可以获得样品表面的形貌。
并通过检测探针与样品间的作用力可以获得样品很多物性的信息,如软硬度、磁力、摩擦力等等。

P.S.D.Scanner驱动检方向运动的轨
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