一种电子产品老化测试系统的设计与实现

一种电子产品老化测试系统的设计与实现

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将相应的测试信息通过!"#$%总线发送到上位机!发送完成后重新设为接收状态!保证在由!"#&%总线构成的多机网络上只有一台下位机处于发送!其余都为接收"但其余下位机的接收中断被屏蔽!实际上只有上位机能响应数据接收中断"

’()**+,芯片为!"-&.总线收发器!可用于组成多达,./个节点的多机网络"用单片机的一根端口线将其!0和10端连接在一起!使!"-&%总线收发器工作在半双工传输方式"123&2,4为一线数字温度计!上位机每分钟采集一次温度数据!并在数码管上显示出来"(5,-634,-为7,6接口的3兆位08!9’芯片!上位机接收的下位机测试数据同时被写入0:8!9’"8;,*4*<为=(!5转="2的接口芯片!保证在测试机柜从高温室转到低温室时不掉电以热插拔方式将上位机0:8!9’中的测试数据下载到86机"

图,上位机电路原理示意图

3>*下位机硬件设计

图*为下位机硬件原理示意图"为了保证测试在不对产品

作任何改动的情况下进行!为每个测试台架设计了一块测试板!实现测试流程的测试程序运行在测试板中的下位单片机中"测试产品的输入输出信号通过,%针插头引到测试板上"

图*

下位机电路原理示意图

!系统软件设计,>3上位机软件设计

以6语言编写的上下位机软件用调试功能较强的7(!6?6@@6ABCDEFGHAG’"8-*4I*J-3(编译器编译"上位机由’"8-*4K3-L3和’"8-*4K3**两个单片机组成"’"8-*4K3-L3通过向’"8-*4K3**的8,端口的8,M*和8,>-引脚发高电平脉冲!同时将采集的&位测试温度值或当前正在测试的下位机状态NL位下位机号@3位状态位O置于’"8-*4K3**的83口"’"8-*4K3**响应相应中断从83口中读取口测试温度值或正

万方数据

一种电子产品老化测试系统的设计与实现

在测试的下位机号及其状态!并将其显示在数码管和&)3/;01阵列上"

’"8-*4K3-L3采用巡检方式产生下位机选通信号!触发相应下位机中断!通过=PGQ4口接收下位机发送的测试信息!并保存到08!9’中!然后通过其=PGQ3口传到86机的="2端"

其主要的程序代码清单如下所示"

,J,下位机软件设计

下位机软件的设计利用了智能电子产品中的语音提示信息!产品语音芯片中的时钟线#串行数据线和语音忙信号线引到测试板中的下位单片机’"8-*4K3**中"每段提示语音播放结束后语音忙信号都将触发下位机中断!下位机根据检测到的语音段号判断被测产品的工作状态!并产生相应的模拟输入!使其进入下一状态"下位机程序基本流程如下代码所示"

RDSTEUVFWBXC-*4Y3*YMZWMMMMMM

[ADVBPDSN[ADVO\

DSDQ]X^XQFBNO_??初始化]07‘5NO_??开中断aZDEFN3O\QFXQNO_bcc测试流程b

RCGPdBP[FTQAGe89!5,]I0659!

]]DSQFGGUCQ[ADVCAGQ,NOcc端口,中断服务程序\

JJJJJJ

DHNN8,7Kfg275,Oee275,Occ处理语音忙信号高电平中断\

CGATFXX]^^NO_cc复位相应语音段的标志位

JJJJJJb

DHNN8,7Kfg275*Oee275*Occ处理上位机片选中断\

cc设置-&%为发送

cc发送一定的无效干扰数据cc发送有效标志

HAGNDe4_Dh34_DiiO??发送状态测试标志位数据\5)2=K4eQY]jUHkDl_

aZDEFNN=565;4g4Y43Ome4Y43O_bMMMMMM

??设置-&%为接收bb

,M*86机软件设计

86机软件采用I6/M4编程实现"在86机端安装了=(!5转="2的接口芯片8;,*4*<的驱动程序后!对应的="2口可作为普通的串口来用"串口的通信编程利用了69’’串行通信控件"86机程序主要完成串口的选择#启动与上位机的数据通

信#将数据转换成测试报告并保存和打印"

"结束语

本文介绍的以单片机为核心的基于!"-&%总线的86测试

数据处理端#上位机测试过程监控端和下位机产品工作流程测试端的三级电子产品老化测试系统具有较好的应用推广价值"

参考文献

$3%冉立新M大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的

可编程("76实现$n%M仪器仪表学报!,44*!,-&3’(,Lo*4

$,%魏小龙M’"8-*4系列单片机接口技术及系统设计实例k’lM北京(北

京航空航天大学出版社!,44,

!收稿日期",44LM3M&#

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